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冷熱沖擊試驗(yàn)箱
冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具. 電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具。
一、 冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：
電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具. 冷熱沖擊試驗(yàn)箱電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具。
二、 尺寸及溫度選擇
| 產(chǎn)品型號(hào) | DGJS-50 | DGJS-80 | DGJS-150 |
| 內(nèi)尺寸 | 36x40x35(HxD)CM | 40x50x40(HxD)CM | 50x60x50(HxD)CM |
| 外尺寸 | 155x175x160(HxD)CM | 155x185x160(HxD)CM | 165x195x170(HxD)CM |
| 溫度范圍 | -65~150℃；可分為幾個(gè)等級(jí)：-40℃；-55℃；-65℃ | ||
| 溫度轉(zhuǎn)時(shí)間 | ≦35min≧10sec | ||
| 溫度控制精度/分布精度 | ±0.5℃/±0.1℃ | ||
| 5.15 溫度偏差 | ≦±2℃ | ||
| 5.16 溫度均勻度 | ≦±2℃ | ||
三、試樣限制
禁止：
1. 易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
2. 腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
3. 生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
4. 強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
5. 放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
6. 劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
7. 試驗(yàn)或儲(chǔ)存過(guò)程中可能產(chǎn)生劇毒物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
